Nacházíte se: Domů » Terminologická databáze » ČSN EN IEC 60749-34-1 - teplota pouzdra

ČSN EN IEC 60749-34-1 - Polovodičové součástky - Mechanické a klimatické zkoušky - Část 34-1: Zkouška výkonovým cyklováním pro výkonové polovodičové moduly

Stáhnout normu:	ČSN EN IEC 60749-34-1 (Zobrazit podrobnosti) Zákazníci, kteří mají na svém počítači sjednanou od České agentury pro standardizaci (ČAS) službu ČSN on-line pro elektronický přístup do plných textů norem v pdf (verzi pro firmy nebo pro jednotlivce), mohou zde přímo otevírat citované ČSN.
Datum vydání/vložení:	2026-02-01
Třidící znak:	358799
Obor:	Polovodičové součástky
ICS:	31.080.01 - Polovodičové součástky obecně
Stav:	Platná

Terminologie normy

‹

Nahlásit chybu

3.3 teplota pouzdra

(case temperature) Tc teplota povrchu pouzdra těsně pod zkoušeným výkonovým polovodičovým čipem

case surface temperature closely below the power semiconductor die under test