ČSN P CEN ISO/TS 80004-6 - Nanotechnologie - Slovník - Část 6: Charakterizace nanoobjektu
| Stáhnout normu: | ČSN P CEN ISO/TS 80004-6 (Zobrazit podrobnosti) |
| Datum vydání/vložení: | 2016-11-01 |
| Zdroj: | https://www.iso.org/obp/ui/#iso:std:iso:ts:80004:-6:ed-1:v1:en |
| Třidící znak: | 012003 |
| Obor: | Nanotechnologie |
| ICS: |
|
| Stav: | Neplatná |
3.2.4 maloúhlový rozptyl rentgenového záření, SAXS
metoda, při které se měří intenzita pružně rozptýlených rentgenových paprsků pro malý úhel vychýlení
POZNÁMKA 1 k heslu Úhlový rozptyl se obvykle měří v rozsahu 0,1° až 10°. To poskytuje informace o struktuře makromolekul, stejně jako periodicitě v rozsahu měřítka obvykle většího než 5 nm a menšího než 200 nm pro uspořádané nebo částečně uspořádané systémy.
[ZDROJ: ISO 18115-1, definice 4.18]
3.2.4 small angle X-ray scattering, SAXS
method in which the elastically scattered intensity of X-rays is measured for small-angle deflections
Note 1 to entry: The angular scattering is usually measured within the range 0,1° to 10°. This provides structural information on macromolecules as well as periodicity on length scales typically larger than 5 nm and less than 200 nm for ordered or partially ordered systems.
[SOURCE: ISO 18115-1, definition 4.18]