Nacházíte se: Domů » Terminologická databáze » ČSN P CEN ISO/TS 80004-6 - skenovací iontová mikroskopie

ČSN P CEN ISO/TS 80004-6 - Nanotechnologie - Slovník - Část 6: Charakterizace nanoobjektu

Stáhnout normu:	ČSN P CEN ISO/TS 80004-6 (Zobrazit podrobnosti) Zákazníci, kteří mají na svém počítači sjednanou od České agentury pro standardizaci (ČAS) službu ČSN on-line pro elektronický přístup do plných textů norem v pdf (verzi pro firmy nebo pro jednotlivce), mohou zde přímo otevírat citované ČSN.
Datum vydání/vložení:	2016-11-01
Zdroj:	https://www.iso.org/obp/ui/#iso:std:iso:ts:80004:-6:ed-1:v1:en
Třidící znak:	012003
Obor:	Nanotechnologie
ICS:	01.040.07 - Matematika. Přírodní vědy (názvosloví) 07.120 - Nanotechnologie
Stav:	Neplatná

Terminologie normy

‹

Nahlásit chybu

3.5.9 skenovací iontová mikroskopie

metoda, při které je iontový paprsek zaměřen do místa stupnice skenovaného rozsahu povrchu subnanometru, pro který je vytvořen obraz

POZNÁMKA 1 k heslu Pro zobrazování mohou být použity různé iontové zdroje, včetně helia, neonu a argonu.

method in which an ion beam focused into a sub-nanometre scale spot is scanned over a surface to create an image

Note 1 to entry: A variety of different ion sources can be used for imaging, including helium, neon and argon.