Informační systém Uvádění výrobků na trh
Nacházíte se: Domů » Terminologická databáze » ČSN ISO 24497-1 (be DeepL) - diskrétní vzdálenost vzorkování ve snímací linii

ČSN ISO 24497-1 (be DeepL) - Nedestruktivní zkoušení - Magnetická paměť kovů - Část 1: Slovník a obecné požadavky

Stáhnout normu: ČSN ISO 24497-1 (be DeepL) (Zobrazit podrobnosti)
Datum vydání/vložení: 2022-11-01
Třidící znak: 051190
Stav: Platná
Nahlásit chybu

3.10 diskrétní vzdálenost vzorkování ve snímací linii


∆x


vzdálenost mezi dvěma sousedními body měření velikosti nebo složek bludného pole


Poznámka 1 k položce: Tato vzorkovací vzdálenost ovlivňuje gradient bludného pole (3.6), KjSF,i.

Upozornění: Jedná se pouze o automatický informativní překlad pro pracovní účely, nejde o oficiální překlad ČSN!

3.10 discrete sampling distance in the scanning line


x


distance between two adjacent measuring points of the magnitude or components of the stray field


Note 1 to entry: This sampling distance affects the stray field gradient (3.6), KjSF,i.

Využíváme soubory cookies, díky kterým Vám mužeme poskytovat lepší služby. Využíváním našich služeb s jejich využitím souhlasíte. Více zde Souhlasím