ČSN P CEN ISO/TS 80004-6 - Nanotechnologie - Slovník - Část 6: Charakterizace nanoobjektu
| Stáhnout normu: | ČSN P CEN ISO/TS 80004-6 (Zobrazit podrobnosti) |
| Datum vydání/vložení: | 2016-11-01 |
| Zdroj: | https://www.iso.org/obp/ui/#iso:std:iso:ts:80004:-6:ed-1:v1:en |
| Třidící znak: | 012003 |
| Obor: | Nanotechnologie |
| ICS: |
|
| Stav: | Neplatná |
3.2.2 small angle neutron scattering, SANS
method in which a beam of neutrons is scattered from a sample and the scattered neutron intensity is measured for small angle deflection
Note 1 to entry: The scattering angle is usually between 0,5° and 10° in order to study the structure of a material on the
length scale of 1 nm to 100 nm. The method provides information on the sizes of the particles (2.9) and to a limited extent the shapes of the particles dispersed in homogeneous medium.
3.2.2 maloúhlový rozptyl neutronů, SANS
metoda, při které je měřena, při malém úhlu výchylka rozptýlených paprsků neutronů vzorku, intenzita jejich rozptýlení
POZNÁMKA 1 k heslu Úhel rozptylu je obvykle mezi 0,5° a 10° v rámci studia struktury materiálu v rozsahu délky stupnice
od 1 nm do 100 nm. Metoda poskytuje informace o velikosti částic (2.9) a mezním rozsahu tvarů částic rozptýlených v homogenním médiu.