Nacházíte se: Domů » Terminologická databáze » ČSN P CEN ISO/TS 80004-6 - transmission electron microscopy, TEM

ČSN P CEN ISO/TS 80004-6 - Nanotechnologie - Slovník - Část 6: Charakterizace nanoobjektu

Stáhnout normu:	ČSN P CEN ISO/TS 80004-6 (Zobrazit podrobnosti) Zákazníci, kteří mají na svém počítači sjednanou od České agentury pro standardizaci (ČAS) službu ČSN on-line pro elektronický přístup do plných textů norem v pdf (verzi pro firmy nebo pro jednotlivce), mohou zde přímo otevírat citované ČSN.
Datum vydání/vložení:	2016-11-01
Zdroj:	https://www.iso.org/obp/ui/#iso:std:iso:ts:80004:-6:ed-1:v1:en
Třidící znak:	012003
Obor:	Nanotechnologie
ICS:	01.040.07 - Matematika. Přírodní vědy (názvosloví) 07.120 - Nanotechnologie
Stav:	Neplatná

Terminologie normy

‹

Nahlásit chybu

3.5.6 transmission electron microscopy, TEM

method that produces magnified images or diffraction patterns of the sample by an electron beam which passes through the sample and interacts with it

[SOURCE: ISO 29301:2010, definition 3.37, modified]

metoda vytváření zvětšeného obrazu nebo difrakčního vzoru vzorku tak, že použije elektronový paprsek, který interaguje se vzorkem, kterým prochází

[ZDROJ: ISO 29301:2010, definice 3.37, modifikováno]