Nacházíte se: Domů » Terminologická databáze » ČSN P CEN ISO/TS 80004-6 - electron backscatter diffraction, EBSD

ČSN P CEN ISO/TS 80004-6 - Nanotechnologie - Slovník - Část 6: Charakterizace nanoobjektu

Stáhnout normu:	ČSN P CEN ISO/TS 80004-6 (Zobrazit podrobnosti) Zákazníci, kteří mají na svém počítači sjednanou od České agentury pro standardizaci (ČAS) službu ČSN on-line pro elektronický přístup do plných textů norem v pdf (verzi pro firmy nebo pro jednotlivce), mohou zde přímo otevírat citované ČSN.
Datum vydání/vložení:	2016-11-01
Zdroj:	https://www.iso.org/obp/ui/#iso:std:iso:ts:80004:-6:ed-1:v1:en
Třidící znak:	012003
Obor:	Nanotechnologie
ICS:	01.040.07 - Matematika. Přírodní vědy (názvosloví) 07.120 - Nanotechnologie
Stav:	Neplatná

Terminologie normy

‹

Nahlásit chybu

5.2.2 electron backscatter diffraction, EBSD

diffraction process that arises between the backscattered electrons and the atomic planes of a highly tilted crystalline specimen when illuminated by a stationary incident electron beam

[SOURCE: ISO 24173:2009, definition 3.7]

5.2.2 difrakce zpětně odražených elektronů, EBSD

proces difrakce, který vzniká mezi rovinami atomů vysoce nakloněného krystalického zkušebního vzorku při zpětném odrazu elektronů, pokud je osvětlen dopadajícím stacionárním elektronovým paprskem

[ZDROJ: ISO 24173:2009, definice 3.7]