Nacházíte se: Domů » Terminologická databáze » ČSN P CEN ISO/TS 80004-6 - scanning ion microscopy

ČSN P CEN ISO/TS 80004-6 - Nanotechnologie - Slovník - Část 6: Charakterizace nanoobjektu

Stáhnout normu:	ČSN P CEN ISO/TS 80004-6 (Zobrazit podrobnosti) Zákazníci, kteří mají na svém počítači sjednanou od České agentury pro standardizaci (ČAS) službu ČSN on-line pro elektronický přístup do plných textů norem v pdf (verzi pro firmy nebo pro jednotlivce), mohou zde přímo otevírat citované ČSN.
Datum vydání/vložení:	2016-11-01
Zdroj:	https://www.iso.org/obp/ui/#iso:std:iso:ts:80004:-6:ed-1:v1:en
Třidící znak:	012003
Obor:	Nanotechnologie
ICS:	01.040.07 - Matematika. Přírodní vědy (názvosloví) 07.120 - Nanotechnologie
Stav:	Neplatná

Terminologie normy

‹

Nahlásit chybu

3.5.9 scanning ion microscopy

method in which an ion beam focused into a sub-nanometre scale spot is scanned over a surface to create an image

Note 1 to entry: A variety of different ion sources can be used for imaging, including helium, neon and argon.

metoda, při které je iontový paprsek zaměřen do místa stupnice skenovaného rozsahu povrchu subnanometru, pro který je vytvořen obraz

POZNÁMKA 1 k heslu Pro zobrazování mohou být použity různé iontové zdroje, včetně helia, neonu a argonu.