Nacházíte se: Domů » Terminologická databáze » ČSN P CEN ISO/TS 80004-6 - surface enhanced ellipsometric contrast microscopy, SEEC microscopy

ČSN P CEN ISO/TS 80004-6 - Nanotechnologie - Slovník - Část 6: Charakterizace nanoobjektu

Stáhnout normu:	ČSN P CEN ISO/TS 80004-6 (Zobrazit podrobnosti) Zákazníci, kteří mají na svém počítači sjednanou od České agentury pro standardizaci (ČAS) službu ČSN on-line pro elektronický přístup do plných textů norem v pdf (verzi pro firmy nebo pro jednotlivce), mohou zde přímo otevírat citované ČSN.
Datum vydání/vložení:	2016-11-01
Zdroj:	https://www.iso.org/obp/ui/#iso:std:iso:ts:80004:-6:ed-1:v1:en
Třidící znak:	012003
Obor:	Nanotechnologie
ICS:	01.040.07 - Matematika. Přírodní vědy (názvosloví) 07.120 - Nanotechnologie
Stav:	Neplatná

Terminologie normy

‹

Nahlásit chybu

3.5.11 surface enhanced ellipsometric contrast microscopy, SEEC microscopy

method of optical imaging using the association of contrast-enhancing surfaces as sample slides and a reflected light optical microscope with crossed polarizers

Note 1 to entry: The contrast-enhancing slides are designed to become anti-reflecting when used in these conditions, leading to an increase in the axial sensitivity of the optical microscope by a factor of around 100.

3.5.11 elipsometrická kontrastní mikroskopie zesíleného povrchu, SEEC mikroskopie

metoda optického zobrazování pomocí zvýšené asociace kontrastu povrchu snímaného vzorku a zkřížené polarizace odraženého světla optického mikroskopu

POZNÁMKA 1 k heslu Zvýšené kontrasty snímků jsou navrženy tak, aby byly využity pro podmínky protiodrazu, což vede ke zvýšení axiálního faktoru citlivosti optického mikroskopu okolo 100.