ČSN P CEN ISO/TS 80004-6 - Nanotechnologie - Slovník - Část 6: Charakterizace nanoobjektu
| Stáhnout normu: | ČSN P CEN ISO/TS 80004-6 (Zobrazit podrobnosti) |
| Datum vydání/vložení: | 2016-11-01 |
| Zdroj: | https://www.iso.org/obp/ui/#iso:std:iso:ts:80004:-6:ed-1:v1:en |
| Třidící znak: | 012003 |
| Obor: | Nanotechnologie |
| ICS: |
|
| Stav: | Neplatná |
4.17 ultraviolet photoelectron spectroscopy, UPS
method in which an electron spectrometer (4.13) is used to measure the energy distribution of photoelectrons emitted from a surface irradiated by ultraviolet photons
Note 1 to entry: Ultraviolet sources in common use include various types of discharges that can generate the resonance lines of various gases (e.g. the He I and He II emission lines at energies of 21,2 eV and 40,8 eV, respectively). For variable energies, synchrotron radiation is used.
[SOURCE: ISO 18115-1, definition 4.22]
4.17 ultrafialová fotoelektronová spektroskopie, UPS
metoda, ve které elektronový spektrometr (4.13) využívá ultrafialové fotony k měření energetického rozdělení elektronů emitovaných z ozářeného povrchu
POZNÁMKA 1 k heslu Ultrafialové zdroje pro běžné použití zahrnují různé typy výbojů, které mohou být generovány přímou rezonancí různých plynů (např. He I a He II přímá emisní energie 21,2 eV respektive 40,8 eV). Pro proměnnou energii se používá synchrotronové záření.
[ZDROJ: ISO 18115-1, definice 4.22]