Nacházíte se:
Domů »
Terminologická databáze »
ČSN P CEN ISO/TS 80004-8 - scanning force probe writing
ČSN P CEN ISO/TS 80004-8 - Nanotechnologie - Slovník - Část 8: Procesy nanovýroby
Stáhnout normu: | ČSN P CEN ISO/TS 80004-8 (Zobrazit podrobnosti) |
Datum vydání/vložení: | 2016-11-01 |
Zdroj: | https://www.iso.org/obp/ui/#iso:std:iso:ts:80004:-8:ed-1:v1:en |
Třidící znak: | 012003 |
ICS: |
|
Stav: | Neplatná |
‹
Nahlásit chybu
7.1.23 scanning force probe writing
use of an scanning probe microscope (SPM) tip to mark, ink or otherwise locally modify the surface of a substrate
7.1.23 skenovací popsání silovou sondou
používá hrot skenovací sondy mikroskopie (SPM) k označení inkoustem nebo jinak lokálně modifikovaným povrchem substrátu