ČSN IEC 60050-523 - Mezinárodní elektrotechnický slovník – Část 523: Mikroelektromechanické součástky
| Stáhnout normu: | ČSN IEC 60050-523 (Zobrazit podrobnosti) | |
| Změny: |
|
|
| Datum vydání/vložení: | 2019-06-01 | |
| Zdroj: | http://www.electropedia.org/iev/iev.nsf/welcome?OpenForm&Seq=1 | |
| Třidící znak: | 330050 | |
| Obor: | Terminologie - Mezinárodní slovník | |
| ICS: |
|
|
| Stav: | Platná |
523-07-01 rastrovací sondový mikroskop SPM
mikroskop, který používá sondu s hrotem v atomárním měřítku; pro získání obrazu se provádí rozmítání v rastrovém obrazci blízkém vzorku a měří se fyzikální veličiny mezi sondou a povrchem vzorku
POZNÁMKA 1 k heslu Při přiblížení ostrého hrotu sondy k povrchu vzorku začnou mezi sondou a vzorkem působit různé fyzikální síly a vzorek může být měřen s rozlišením v atomárním měřítku. Obecně se sondou pohybuje přes povrch vzorku v rastrovém obrazci, přičemž se udržuje měřená fyzikální veličina na konstantní úrovni a posunutí sondy se provádí tak, že se získávají data pro kreslení jemného obrazu vzorku. To je společný princip různých typů SPM, např. rastrovací tunelovací mikroskop, mikroskop s atomární silou, mikroskop s elektrostatickou silou, rastrovací iontový mikroskop, rastrovací mikroskop s magnetickým polem, mikroskop rastrující teplotu a mikroskop rastrující třecí sílu.
POZNÁMKA 2 k heslu Tato poznámka se týká pouze francouzské jazykové verze.
[ZDROJ: IEC 62047-1:2016, 2.7.1]
523-07-01 scanning probe microscope SPM
microscope that uses a probe with a tip of atomic scale and scans it in a raster pattern close to the specimen for measuring physical quantities between the probe and the surface to obtain an image
Note 1 to entry: By approaching a sharply pointed probe tip to the surface of the specimen, various physical forces that work between the probe and the specimen can be measured at the resolution of an atomic scale. In general, the probe is moved over the surface of the specimen in a raster pattern while maintaining the measured physical quantity at a constant value, and the displacement of the probe in so doing is used as the data for drawing a fine image of the specimen. This is the common principle of different types of scanning probe microscope, i.e. the scanning tunnel microscope, atomic force microscope, electrostatic force microscope, scanning ion microscope, scanning magnetic field microscope, scanning temperature microscope, and scanning friction force microscope.
Note 2 to entry: This note applies to the French language only.
SOURCE: IEC 62047-1:2016, 2.7.1