Informační systém Uvádění výrobků na trh
Nacházíte se: Domů » Terminologická databáze » ČSN IEC 60050-523 - mikroskop atomární síly AFM

ČSN IEC 60050-523 - Mezinárodní elektrotechnický slovník – Část 523: Mikroelektromechanické součástky

Stáhnout normu: ČSN IEC 60050-523 (Zobrazit podrobnosti)
Změny:
ZMĚNA A1 | Datum vydání/vložení: 2020-04-01
Datum vydání/vložení: 2019-06-01
Zdroj: http://www.electropedia.org/iev/iev.nsf/welcome?OpenForm&Seq=1
Třidící znak: 330050
Obor: Terminologie - Mezinárodní slovník
ICS:
  • 01.040.29 - Elektrotechnika (názvosloví)
  • 31.080.99 - Ostatní polovodičové součástky
Stav: Platná
Terminologie normy
Nahlásit chybu

523-07-02 mikroskop atomární síly AFM

mikroskop, který měří mikroskopickou geometrii pomocí sledování posunutí špičky hrotu způsobené atomární silou mezi hrotem sondy a vzorkem při rozmítání špičky hrotu v rastrovém obrazci

POZNÁMKA 1 k heslu Metoda optického hrotu je užitečná pro sledování posunutí špičky hrotu. Posunutí špičky hrotu se měří detekováním odraženého světla od špičky hrotu. Existují tři typy pohybu hrotu při měření: 1) metoda, při které se hrot sondy dotýká vzorku, 2) metoda, která sleduje změny vibrací hrotu při cyklickém kontaktu („otvírací“ režim), 3) metoda, která sleduje změnu frekvence vibrujícího hrotu bez kontaktu hrotu se vzorkem.

POZNÁMKA 2 k heslu Tato poznámka se týká pouze francouzské jazykové verze.

[ZDROJ: IEC 62047-1:2016, 2.7.2]

523-07-02 atomic force microscope AFM

microscope that measures microscopic geometry by monitoring the displacement of a cantilever caused by the atomic force between the cantilever tip and the specimen while scanning the cantilever in a raster pattern

Note 1 to entry: The optical lever method is useful for monitoring the displacement of the cantilever. The displacement of the cantilever is measured by detecting the reflected light from the cantilever. There are three types of cantilever movement in the measurements: 1) the method wherein the cantilever contacts the specimen, 2) the method that monitors the amplitude change of the vibrating cantilever with cyclic contact (tapping mode), 3) the method that monitors the frequency change of the vibrating cantilever without contact between the cantilever and the specimen.

Note 2 to entry: This note applies to the French language only.

SOURCE: IEC 62047-1:2016, 2.7.2

Využíváme soubory cookies, díky kterým Vám mužeme poskytovat lepší služby. Využíváním našich služeb s jejich využitím souhlasíte. Více zde Souhlasím